中圖白光干涉儀由照明光源系統，光學成像系統，垂直掃描系統以及數據處理系統構成，是以白光干涉技術為原理，結合具有優異抗噪性能的3D重建算法，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。
白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300余種2D、3D參數作為評價標準。
粗糙度分析操作步驟：
1. 將樣品放置在夾具上，確保樣品狀態穩定；
2. 將夾具放置在載物臺上；
3. 檢查電機連接和環境噪聲，確認儀器狀態；
4. 使用操縱桿調節三軸位置，將樣品移到鏡頭下方并找到樣品表面干涉條紋；
5. 完成掃描設置和命名等操作；
6. 點擊開始測量（進入3D視圖窗口旋轉調整觀察一會）；
7. 進入數據處理界面，點擊“去除外形"，采用默認參數，點擊應用獲取樣品表面粗糙度輪廓；
8. 進入分析工具模塊，點擊參數分析，直接獲取面粗糙度數據，點擊右側參數標準可更換參數標準，增刪參數類型；
9. 如果想獲取線粗糙度數據，則需提取剖面線；
10. 進入數據處理界面，點擊“提取剖面"圖標，選擇合適方向剖面線進行剖面輪廓提取；
11. 進入分析工具界面，點擊“參數分析"圖標，點擊右側參數標準，勾選所需線粗糙度相關參數，即可獲取線粗糙度Ra數據。
白光干涉儀特征
1）具備各種類型樣品表面微觀形貌的3D輪廓重建與測量功能；
2）具備表面粗糙度和微觀輪廓的檢測功能，粗糙度范圍涵蓋0.1nm到數十微米的級別；
3）具備校平、去除形狀、去噪、濾波等數據處理功能；
4）具備粗糙度分析、輪廓分析、結構分析、功能分析等表面參數分析功能；
5）具備自動對焦、自動測量、自動多區域測量、自動拼接測量等自動化功能；
6）具備一鍵分析、多文件分析等快速、批量分析功能；
7）具備word、excel等數據報表導出功能。
