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解決方案

奧普特—手機芯片缺陷檢測

2023/3/27 11:32:15

　　應用描述

　　檢測手機芯片表面臟污、劃傷等缺陷。通過選用球積分光源，降低光源工作距離，將臟污、劃傷明顯區別出來。

　

　實物圖

　　效果圖

　　手機芯片缺陷檢測案例說明下載

      手機芯片缺陷檢測例程下載

　　

　　相關產品

　　OPT-RID52-W

　　采用特制漫射板，使光源發出的光線均勻分布在整個圖像上； 有效消除表面不平整形成的干擾。